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梅特勒XPE105分析天平可滿足您日益增長的需求。 您可在今后的許多年中實現(xiàn)豐富的稱量應用。 瑞士設計與制造,出色的質(zhì)量值得您信賴。
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梅特勒XPE105分析天平
梅特勒XPE105 分析天平提供出色的分析稱量性能,并提供至高稱量安全性、*稱量效率且易于合規(guī)。 梅特勒 XPE105 分析天平重復性誤差小,因此提供zui低的zui小稱量值。質(zhì)量管理特征,例如創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈和獲得的 StaticDetect 技術(shù),可免除您在稱量方面的擔憂并獲得值得信賴的結(jié)果。憑借各種附件和多個連接選項,梅特勒 XPE105分析天平可滿足您日益增長的需求。 您可在今后的許多年中實現(xiàn)豐富的稱量應用。 瑞士設計與制造,出色的質(zhì)量值得您信賴。
梅特勒XPE105分析天平提供以下智能稱量功能:
• 包括狀態(tài)指示燈在內(nèi)的新型彩色顯示屏,具有警告功能
• 獲得的 StaticDetect 功能
• 新的靜電消除技術(shù)
• TestManager™ 用于輕松的日常測試
• 性能更出色的網(wǎng)格秤盤
• LabX® 軟件用于當前在屏幕上提供定制的工作流程指南
梅特勒XPE105分析天平技術(shù)規(guī)格
處理能力zui高為 520g,可讀性為 0.01mg/0.1mg
*性能
USP41 的zui小重量可精確到 14 mg
無需觸摸操作
稱量,去皮,自動開關(guān)門 – 減少污染
無縫過程
RFID 選項;LabX:自動數(shù)據(jù)處理,SOP 指南
*的清潔流程
快速拆除稱量室,可在洗碗機中安全清洗
天平管理應用程序
StatusLight™:天平水平,測試已完成,可隨時稱量
靜電解決方案
自動靜電檢測,緊湊式離子發(fā)生器XP504DR 分析天平
梅特勒 XPE105 分析天平 技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品 | 量程 | 可讀性 | zui小稱量值 (USP),典型值 | 重復性 | 線性誤差(典型值)± |
XPE105分析天平 | 120.0 g | 0.01 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.1 mg |
XPE204 | 220.0 g | 0.1 mg | 80.0 mg | 0.05 mg | 0.2 mg |
XPE205 | 220.0 g | 0.01 mg | 14.0 mg | 0.015 mg | 0.1 mg |
郵箱:liu56817@126.com
電話:0755-83982139
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